Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics, 27 (2), P. 169-175 (2024).
DOI: https://doi.org/10.15407/spqeo27.02.169
Мікротвердість монокристалічних зразків твердих розчинів Ag7+x(P1–xGex)S6
Анотація.
У роботі наведено результати дослідження мікротвердості монокристалічних зразків твердих розчинів Ag7+x(P1–xGex)S6 (x = 0, 0.1, 0.25, 0.33, 0.5, 0.75, 1). Досліджено залежність мікротвердості H від навантаження P та складу зразків. Виявлено зменшення мікротвердості зі збільшенням прикладеного навантаження, що свідчить про наявність “прямого” розмірного ефекту індентування в твердих розчинах Ag7+x(P1–xGex)S6. Отримані результати було апроксимовано в рамках моделі геометрично необхідних дислокацій (модель Нікса–Гао), та визначено параметри моделі. Встановлено вплив гетеровалентного заміщення Р5+ → Ge4+ на механічні властивості кристалів Ag7+x(P1–xGex)S6.
Ключові слова:аргіродит, монокристал, мікротвердість.
І.О. Шендер, А.І. Погодін, М.Й. Філеп, Т.О. Малаховська, О.П. Кохан, В.С. Біланич, Т.Я. Бабука, В.Ю. Ізай
This work is licensed under a Creative Commons Attribution-NoDerivatives 4.0 International License.