Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics, 22 (3), P. 347-352(2019).
DOI: https://doi.org/10.15407/spqeo22.03.347
Еліпсометричні дослідження змішаних кристалів
(Cu6PS5I)1–x(Cu7PS6)x та (Cu6PS5Br)1–x(Cu7PS6)x
І.П. Студеняк1, М.М. Лучинець1, М.М. Поп1, В.І. Студеняк1, А.І. Погодін1, О.П. Кохан1, B. Grančič2, P. Kúš2
2Faculty of Mathematics, Physics and Informatics, Comenius University,
Mlynska dolina, 84248 Bratislava, Slovakia
E-mail: studenyak@dr.com
Анотація. Змішані кристали (Cu6PS5I)1–x(Cu7PS6)x та (Cu6PS5Br)1–x(Cu7PS6)x вирощували за допомогою технології прямої кристалізації з розплаву. Показники заломлення та коефіцієнти екстинкції змішаних кристалів були отримані за допомогою спектральної еліпсометрії. Виявлено нелінійне зростання показників заломлення при збільшенні вмісту Cu7PS6. Дисперсія показників заломлення описана в рамках моделі Wemple–DiDomenico. Проаналізовано концентраційні залежності оптичних параметрів для змішаних кристалів (Cu6PS5I)1–x(Cu7PS6)x та (Cu6PS5Br)1–x(Cu7PS6)х.
Ключові слова: суперіонні провідники, змішані кристали, спектральна еліпсометрія, показник заломлення, коефіцієнт екстинкції.
This work is licensed under a Creative Commons Attribution-NoDerivatives 4.0 International License.