Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics, 26 (1), P. 089-096 (2023).
Дослідження чутливості до гамма-випромінювання сцинтиляторних структур на основі YAG:Ce
1V. Lashkaryov Institute of Semiconductor Physics, NAS of Ukraine, 41, prosp. Nauky, 03680 Kyiv, Ukraine Анотація.
Іонізуюче випромінювання сьогодні широко використовують для діагностики та дослідження
широкого кола об’єктів завдяки високій достовірності та якості отриманих у результаті таких досліджень
результатів. Використання високочутливих датчиків іонізуючого випромінювання дає змогу знизити дозу
потрібного для досліджень іонізуючого випромінювання та створити чутливі системи для контролю параметрів
середовища. У даній роботі досліджено ефективність датчика радіаційного випромінювання низької густини, в
якому використано композитну сцинтиляційну структуру на основі порошкоподібного люмінофора YAG:Ce в
ролі конвертуючого покриття фоточутливого приймача. Для джерел на основі
241 Am і 137 Cs установлено
можливість реєстрації гамма-випромінювання датчиком іонізуючого випромінювання на основі композитної
конвертуючої сцинтиляційної структури YAG:Ce 3+ і MAPD. Показано, що кількість виявлених гамма-променів,
які випускаються джерелом
241 Am, лінійно збільшується зі збільшенням товщини композитної конвертуючої
сцинтиляційної структури. Установлено, що вибрана товщина 495 мкм композитної конвертуючої
сцинтиляційної структури дає змогу реєструвати кванти гамма-випромінювання, енергія яких перебуває в
діапазоні 26 – 662 кеВ.
Ключові слова: iонізуюче випромінювання, сцинтиляційна структура, YAG:Ce люмінофор, датчик
радіаційного випромінювання низької густини. This work is licensed under a Creative Commons Attribution-NoDerivatives 4.0 International License.
|