Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics, 26 (2), P. 152-158 (2023).
Спектроскопія дифузного відбиття твердих розчинів у системі Ag7PS6-Ag8GeS6
Анотація.
Зразки твердих розчинів Ag7+x(P1–xGex)S6 (x = 0, 0.1, 0.25, 0.33, 0.5, 0.75, 1.0) одержано у формі мікрокристалічних порошків шляхом розмелювання в агатовій ступці. Спектри дифузного відбиття отриманих зразків твердих розчинів Ag7+x(P1–xGex)S6 досліджено у спектральному діапазоні 200…1400 нм при температурі 293 K. Спектральні залежності проаналізовано багаторівневою апроксимацією з використанням функції Кубелки–Мунка та графічного методу Таука. Встановлено, що для твердих розчинів Ag7+x(P1–xGex)S6 при збільшенні вмісту Ge спостерігається червоний зсув початку краю відбиття. Графічним методом Таука оцінено псевдоширину забороненої зони твердих розчинів Ag7+x(P1–xGex)S6. Установлено, що гетеровалентне катіонне заміщення P+5 → Ge+4 у межах аніонної підґратки приводить до монотонного нелінійного зменшення псевдоширини забороненої зони.
Ключові слова: магнітне поле, заряджений дефект, дрейф дефектів. This work is licensed under a Creative Commons Attribution-NoDerivatives 4.0 International License.
|