Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics, 23 (3), P. 260-266 (2020).
https://doi.org/10.15407/spqeo23.03.260
Структурні та імпедансні дослідження кераміки на основі збагаченого міддю (Cu0.75Ag0.25)7SiS5I
1Ужгородський національний університет, фізичний факультет,
3, пл. Народна, 88000 м. Ужгород, Україна
Анотація.
Кераміку на основі збагаченого міддю (Cu0.75Ag0.25)7SiS5I отримано згідно з розробленими технологічними умовами з мікро- та нанопорошків шляхом пресування та спікання.
Структурні дослідження на різних стадіях процесу підготовки зразків кераміки проведено за допомогою методу рентгенівської дифракції та мікроструктурного аналізу.
Частотні та температурні залежності загальної електропровідності кераміки на основі (Cu0.75Ag0.25)7SiS5I було досліджено шляхом імпедансних вимірювань.
З використанням діаграм Найквіста за допомогою електродних еквівалентних схем визначали іонні та електронні компоненти загальної електропровідності.
Показано, що іонна та електронна електропровідності нелінійно залежать від середнього розміру кристалітів кераміки на основі (Cu0.75Ag0.25)7SiS5I
Ключові слова:аргіродит, суперіонний провідник, кераміка, іонна провідність, енергія активації.
І.П. Студеняк1, .І. Погодін1, І.А. Шендер1, С.М. Березнюк1, М.Й. Філеп1, О.П. Кохан1, Kopčanský2
2Institute of Experimental Physics, Slovak Academy of Sciences
47, Watsonova str., 04001 Košice, Slovakia
E-mail: studenyak@dr.com
This work is licensed under a Creative Commons Attribution-NoDerivatives 4.0 International License.